나노 구조 정량적 분석기술 첫 개발-포스텍 연구팀

포스텍 화학과 이문호 교수·장태현 교수 공동 연구팀

▲이문호 교수(왼쪽), 장태현 교수

세계적인 과학전문지 '저널 오브 어플라이드 크리스탈로그래피(Journal of Applied Crystallography)'의 2008년 표지를 장식하게 될 논문이 포스텍 화학과 이문호 교수(포항가속기연구소 소장)와 장태현 교수 공동 연구팀에서 나왔다.

이 연구팀은 포항방사광가속기의 X-선 스침각 산란을 이용해 고분자 나노 구조 및 특성을 정량적으로 분석하는 새로운 나노 분석기술을 세계 최초로 개발했다고 밝혔다.

이 기술은 방사광 X-선을 나노 시료 표면에 가까운 각도로 입사해 시료를 통과하는 X-선의 양을 획기적으로 증가시켜 양질의 X-선 산란 데이터를 얻는 기술로, 0.1㎚(나노미터)의 고분해능으로 고분자 나노 구조 및 특성을 비파괴적으로 분석하는 획기적인 나노 분석기술이다.

따라서 일반적 방법으로는 분석이 불가능했던 '자이로이드(Gyroid)'같은 고분자 나노구조의 정확한 크기와 형태 분포 배열 등에 대한 데이터를 얻을 수 있고 측정 시간이 매우 짧아 실시간으로 평가와 분석이 가능한 장점이 있어 앞으로 반도체와 디스플레이 같은 IT 산업에 요구되는 핵심기술이 될 전망이다.

한편 이 연구팀이 포항방사광가속기의 X-선으로 얻어낸 고분자 나노구조체의 산란 패턴 사진은 올해 1월부터 12월까지 1년 동안 이 저널 표지에 게재된다. 포항·박정출기자 jcpark@msnet.co.kr